Workshop sobre les últimes novetats en microscòpia electrònica

28/11/2011

Les sessions del Workshop, a la sala de Graus II i a l’aula C5/012 de la Facultat de Ciències de la UAB, han tractat els nous instruments de microscòpia electrònica, nous programaris per a l’anàlisi de les imatges i les aplicacions de les noves tecnologies en casos pràctics de recerca.
 
El Servei de Microscòpia Electrònica ha donat a conèixer l’equip de microscòpia electrònica de rastreig MERLIN, adquirit amb fons FEDER i fons del UAB Campus d’Excel·lència Internacional. Ha obert la primera sessió Peter Gnauck, de l’Àrea d’Investigació i Desenvolupament de Carl Zeiss, amb una presentació de les últimes novetats en microscòpia electrònica de rastreig (SEM/XB); per donar pas a la presentació de casos d’utilització de la microscòpia en diferents àrees de recerca. Sergi Novo, del Departament de Biologia Cel·lular, de Fisiologia i d’Immunologia de la UAB, ha presentat l’ús de la microscòpia electrònica en l’estudi d’embrions i oòcits de ratolí; Xavier Borrisé i Jordi Llobet, del Centre Nacional de Microelectrònica (IMB-CNM-CSIC), han explicat els serveis de la Sala Blanca del CNM relacionats amb la focalització de feixos d’ions i d’electrons; i Martin Kuttge, investigador de l’Institut de Ciències Fotòniques (ICFO), ha parlat sobre l’ús de feixos d’ions focalitzats en nanofotònica.
 
Es pot consultar el programa complet del taller a l’adreça:
 
http://sct.uab.cat/microscopia/content/workshop-zeiss