Microscòpia Electrònica de Rastreig
Serveis
Les imatges d’electrons secundaris són les més comunes en la microscòpia electrònica de rastreig. La interacció del feix primari amb la mostra provoca l’alliberament d’electrons secundaris a la superfície, els quals són detectats i generen la imatge.
Els electrons retrodispersats són electrons del feix primari que es reflecteixen elàsticament pels àtoms de la mostra. D’aquesta manera, la intensitat del senyal BSE està relacionada amb el nombre atòmic (Z) de la mostra. Les diferències en el contrast de les imatges es produeixen en funció de les característiques composicionals de la mostra.
Es tracta d’una tècnica analítica semiquantitativa que permet obtenir informació elemental de la mostra. Aquesta tècnica es basa en la detecció dels raigs X generats per la interacció del feix d’electrons amb la mostra. Quan s’acobla al SEM, permet obtenir mapes elementals de la mostra.
La tècnica EBSD és una tècnica de difracció d’electrons de la microscòpia electrònica de rastreig. Es basa en la captació dels electrons elàsticament retrodispersats de la mostra que han experimentat dispersió de Bragg. El patró d’EBSD resultant consisteix en unes bandes, anomenades bandes de Kikuchi, que proporcionen informació sobre l’estructura cristal·logràfica i l’orientació cristal·lina.