Vés al contingut principal
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X

Perfilometria

L’SMiDRX disposa d’un perfilòmetre òptic i un de mecànic, oferint així un ampli rang de resolucions per a l’anàlisi de superfícies. 

  • Estudis topogràfics tridimensionals amb una resolució de mm a nm gràcies a la combinació d’imatges confocals amb la interferometria. 
  • Estudis perfilomètrics de superfície amb resolució nanomètrica. 

Perfilometre

El personal de l’àrea també dona assessorament tècnic per a optimitzar i/o dissenyar experiments així com per a desenvolupar noves aplicacions. També ofereix entrenament als usuaris que vulguin utilitzar l’equipament en règim d’autoservei.