Perfilometria

L’SMiDRX disposa d’un perfilòmetre òptic i d’un de mecànic, oferint així un ampli rang de resolucions per a l’anàlisi de superfícies.

• Estudis topogràfics tridimensionals amb resolucions que van des del mil·límetre fins al nanòmetre, gràcies a la combinació d’imatges confocals i interferometria.
• Estudis perfilomètrics de superfície amb resolució nanomètrica.

El personal de l’àrea també dona assessorament tècnic per a optimitzar i/o dissenyar experiments així com per a desenvolupar noves aplicacions. També ofereix capacitació als usuaris que vulguin utilitzar l’equipament en règim d’autoservei.