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Universitat Autònoma de Barcelona
Servicio de Microscopía y Difracción de Rayos X

Perfilometría

El SMiDRX dispone de un perfilómetro óptico y otro mecánico, lo que permite ofrecer un amplio rango de resoluciones para el análisis de superficies.

  • Estudios topográficos tridimensionales con resoluciones que van desde el milímetro hasta el nanómetro, gracias a la combinación de imágenes confocales e interferometría.
  • Estudios perfilométricos de superficie con resolución nanométrica.

Perfilometre

El personal del área también ofrece asesoramiento técnico para optimizar y/o diseñar experimentos, así como para desarrollar nuevas aplicaciones. Además, brinda capacitación a los usuarios que deseen utilizar el equipamiento en régimen de autoservicio.

Información complementaria