Difracció de Raigs X (DRX)
La difracció de raigs X és una tècnica de laboratori bàsica per obtenir informació sobre la cristal·linitat i l’estructura cristal·lina dels sòlids. Es tracta d’una de les tècniques més valorades dins la comunitat científica, gràcies a la seva alta precisió.
La tècnica es basa a fer incidir un feix de raigs X sobre la mostra, generant feixos difractats que són captats per un detector de raigs X. Aquest detector n'enregistra la intensitat, la qual depèn de l’angle amb què els feixos són desviats per la mostra. Tant la difracció com la intensitat d’aquests feixos contenen informació sobre l’estructura cristal·lina de la mostra, cosa que permet determinar les fases cristal·lines presents i la seva microestructura, és a dir, la mida i l’orientació dels cristalls.
També és possible determinar l’estructura cristal·lina en cas de no conèixer-se prèviament o, mitjançant l’anàlisi de la radiació difusa, obtenir informació sobre la presència de fases amorfes o sobre la mida de partícules nanomètriques.
Aquesta tècnica pot aplicar-se tant a monocristalls com a mostres en forma de pols microcristal·lina, obtenint dades diferents en cada cas.
