Vés al contingut principal
Idioma seleccionat:
Català
Español
Desplega el formulari de cerca
Cerca al web
Vés
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X
Menú
Coneix el Servei
Serveis
Equipament
Reserves
Actualitat
Inici
Equipament
Equipament
Filtra els cursos per tipus:
Anàlisi d'imatge
Difracció de raigs X
Microscòpia electrònica
Microscòpia òptica
Perfilometria
Preparació de mostres
Ultramicrotomia
Aplica els filtres
SEM Zeiss Merlin
Microscòpia electrònica
//
Serra de precisió Minitom Struers
Preparació de mostres
//
Sistema de contrast de reixetes Leica EM AC20
Preparació de mostres
//
Sistema de descàrrega PELCO easyGlow
Preparació de mostres
//
Sistema de punt crític Baltec CPD030
Preparació de mostres
//
TEM Hitachi H-7000 (100kV)
Microscòpia electrònica
//
TEM Jeol 2011 (200 kV)
Microscòpia electrònica
//
TEM Jeol JEM 1400 (120kV)
Microscòpia electrònica
//
Pàgina anterior
Pàgina
1
Hi ha més pàgines
...
Pàgina
3
Pàgina actual
4
Pàgina
5
Pàgina siguiente
Mapa del web
Inici
Coneix el Servei
Coneix el Servei (visió general)
Història
Personal
Contacte i horari
Tarifes
Política de Qualitat i Protecció de Dades
Normativa
Suggeriments i reclamacions
Serveis
Serveis (visió general)
Microscòpia Electrònica
Preparació de Mostres
Microscòpia Òptica (OM)
Perfilometria
Difracció de Raigs X (DRX)
Suport a la docència
Divulgació
Equipament
Reserves
Actualitat
