Vés al contingut principal
Idioma seleccionat:
Català
Español
Desplega el formulari de cerca
Cerca al web
Vés
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X
Menú
Coneix el servei
Serveis
Equipament
Reserves
Actualitat
Inici
Equipament
Equipament
Filtra els cursos per tipus:
Anàlisi Imatge
Difracció de Raigs X
Microscòpia Electrònica
Microscòpia Òptica
Perfilometria
Preparació Mostres
Ultramicrotomia
Actualitza
SEM Zeiss Merlin
Microscòpia Electrònica
//
Serra de precisió Minitom Struers
Preparació Mostres
//
Sistema de congelació i inclusió Leica EM AFS
Preparació Mostres
//
Sistema de contrast de reixetes Leica EM AC20
Preparació Mostres
//
Sistema de descàrrega PELCO easyGlow
Preparació Mostres
//
Sistema de punt crític Baltec CPD030
Preparació Mostres
//
TEM Hitachi H-7000 (100kV)
Microscòpia Electrònica
//
TEM Jeol 2011 (200kV)
Microscòpia Electrònica
//
Pàgina anterior
Pàgina
1
Hi ha més pàgines
...
Pàgina
3
Pàgina actual
4
Pàgina
5
Pàgina siguiente
Mapa del web
Inici
Coneix el servei
Coneix el servei (visió general)
Personal
Contacte i horari
Tarifes
Política de Qualitat i Protecció de Dades
Normativa
Suggeriments i reclamacions
Serveis
Serveis (visió general)
Microscòpia Electrònica (EM)
Preparació de Mostres (SP)
Microscòpia Òptica (OM)
Perfilometria
Difracció de Raigs X (DRX)
Suport a la docència
Divulgació
Equipament
Reserves
Actualitat
