Vés al contingut principal
Desplega el formulari de cerca
Cerca al web
Vés
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X
Menú
Coneix el servei
Serveis
Equipament
Reserves
Actualitat
Inici
Equipament
Equipament
Filtra els cursos per tipus:
Anàlisi Imatge
Microscòpia Electrònica
Microscòpia Òptica
Perfilometria
Preparació Mostres
Ultramicrotomia
Actualitza
Sistema de contrast de reixetes Leica EM AC20
Preparació Mostres
Sistema de descàrrega PELCO easyGlow
Preparació Mostres
Sistema de punt crític Baltec CPD030
Preparació Mostres
TEM Hitachi H-7000 (100kV)
Microscòpia Electrònica
TEM Jeol 2011 (200kV)
Microscòpia Electrònica
TEM Jeol JEM 1400 (120kV)
Microscòpia Electrònica
UV Cleaner Hitachi ZoneSEM
Preparació Mostres
ZEN Blue/Black
Anàlisi Imatge
Pàgina anterior
Pàgina
1
Pàgina
2
Pàgina
3
Pàgina actual
4
Mapa del web
Inici
Coneix el servei
Coneix el servei (visió general)
Personal
Contacte i horari
Tarifes
Política de Qualitat i Protecció de Dades
Normativa
Suggeriments i reclamacions
Serveis
Serveis (visió general)
Microscòpia Electrònica (EM)
Preparació de Mostres (SP)
Microscòpia Òptica (OM)
Perfilometria
Suport a la docència
Divulgació
Equipament
Reserves
Actualitat