SEM Zeiss Merlin

El SEM Zeiss Merlin és un microscopi d’alta resolució d’emissió de camp amb capacitat analítica que permet l’obtenció d’informació topogràfica i analítica. L’equip es pot utilitzar per a una àmplia gamma d’aplicacions gràcies a la col·lecció de detectors disponibles, que consisteixen en: detector d’electrons secundaris (SE), detector In-lens (per a imatges en un escala de nanòmetres i micròmetres), detector d’electrons retrodispersats In-lens ESB i detector de selecció d’angle (ASB) (per a imatges de contrast de materials). El Merlin, a més, permet fer mesures analítiques, com ara l’espectroscòpia d’energia dispersiva de raigs X (EDS) i difracció d’electrons retrodispersats (EBSD).

Aquest equip ha estat cofinançat en un 50 % a càrrec del Fons de Desenvolupament Regional en el marc operatiu FEDER de Catalunya 2007-2013.