SEM Zeiss Merlin

El SEM Zeiss Merlin es un microscopi d’alta resolució d’emissió de camp amb capacitat analítica que permet l’obtenció de Informació topogràfica i analítica. L'equip pot ser utilitzat per a una àmplia gama d'aplicacions gràcies a la col·lecció de detectors disponibles. Aquests consisteixen en: detector de electrons secundaris (SE), detector In-lens (per imatges en un escala de nanòmetres i micròmetres), un detector de electrons retro-dispersats In-lens ESB i detector de selecció d'angle (ASB) (per a imatges de contrast de materials). El Merlin, a més, permet la realització de mesures analítiques, tals com l'espectroscòpia d'energia dispersiva de raigs X (EDS) i difracció d'electrons retro-dispersats (EBSD).

Aquest equip ha estat cofinançat en un 50% a càrrec del Fons de desenvolupament regional en el marc operatiu FEDER de Catalunya 2007-2013.