Vés al contingut principal
Idioma seleccionat:
Català
Español
Desplega el formulari de cerca
Cerca al web
Vés
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X
Menú
Coneix el servei
Serveis
Equipament
Reserves
Actualitat
Inici
Microscòpia Electrònica
Microscòpia Electrònica
SEM Hitachi S-570
Microscòpia Electrònica
//
SEM Zeiss EVO
Microscòpia Electrònica
//
SEM Zeiss Merlin
Microscòpia Electrònica
//
TEM Hitachi H-7000 (100kV)
Microscòpia Electrònica
//
TEM Jeol 2011 (200kV)
Microscòpia Electrònica
//
TEM Jeol JEM 1400 (120kV)
Microscòpia Electrònica
//
Mapa del web
Inici
Coneix el servei
Coneix el servei (visió general)
Personal
Contacte i horari
Tarifes
Política de Qualitat i Protecció de Dades
Normativa
Suggeriments i reclamacions
Serveis
Serveis (visió general)
Microscòpia Electrònica (EM)
Preparació de Mostres (SP)
Microscòpia Òptica (OM)
Perfilometria
Difracció de Raigs X (DRX)
Suport a la docència
Divulgació
Equipament
Reserves
Actualitat