Vés al contingut principal
Idioma seleccionat:
Català
Español
Desplega el formulari de cerca
Cerca al web
Vés
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X
Menú
Coneix el Servei
Serveis
Equipament
Reserves
Actualitat
Inici
Equipament
Equipament
Filtra els cursos per tipus:
Anàlisi d'imatge
Difracció de raigs X
Microscòpia electrònica
Microscòpia òptica
Perfilometria
Preparació de mostres
Ultramicrotomia
Aplica els filtres
Microscopi òptic Nikon Eclipse LV150
Microscòpia òptica
//
PANanalytical X'Pert Powder
Difracció de raigs X
//
Perfilòmetre mecànic KLA Tencor P-15
Perfilometria
//
Perfilòmetre òptic Leica DCM 3D
Perfilometria
//
Polidora Struers LaboPol 25
Preparació de mostres
//
Polidora còncava GATAN 656 Dimple Grinder
Preparació de mostres
//
SEM Hitachi S-570
Microscòpia electrònica
//
SEM Zeiss EVO
Microscòpia electrònica
//
Pàgina anterior
Pàgina
1
Pàgina
2
Pàgina actual
3
Pàgina
4
Pàgina
5
Pàgina siguiente
Mapa del web
Inici
Coneix el Servei
Coneix el Servei (visió general)
Història
Personal
Contacte i horari
Tarifes
Política de Qualitat i Protecció de Dades
Normativa
Suggeriments i reclamacions
Serveis
Serveis (visió general)
Microscòpia Electrònica
Preparació de Mostres
Microscòpia Òptica (OM)
Perfilometria
Difracció de Raigs X (DRX)
Suport a la docència
Divulgació
Equipament
Reserves
Actualitat
