Vés al contingut principal
Desplega el formulari de cerca
Cerca al web
Vés
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X
Menú
Coneix el servei
Serveis
Equipament
Reserves
Actualitat
Inici
Equipament
Equipament
Filtra els cursos per tipus:
Anàlisi Imatge
Microscòpia Electrònica
Microscòpia Òptica
Perfilometria
Preparació Mostres
Ultramicrotomia
Actualitza
ImageJ/Fiji
Anàlisi Imatge
LAS AF
Anàlisi Imatge
Lupa estereoscòpica Leica MZFLIII
Microscòpia Òptica
Metal·litzador catòdic de C Emitech K550X/K250
Preparació Mostres
Metal·litzador d'Au Emitech K550X
Preparació Mostres
Microscopi òptic Nikon Eclipse LV150
Microscòpia Òptica
Perfilòmetre mecànic KLA Tencor P-15
Perfilometria
Perfilòmetre òptic Leica DCM 3D
Perfilometria
Pàgina anterior
Pàgina
1
Pàgina actual
2
Pàgina
3
Pàgina
4
Pàgina siguiente
Mapa del web
Inici
Coneix el servei
Coneix el servei (visió general)
Personal
Contacte i horari
Tarifes
Política de Qualitat i Protecció de Dades
Normativa
Suggeriments i reclamacions
Serveis
Serveis (visió general)
Microscòpia Electrònica (EM)
Preparació de Mostres (SP)
Microscòpia Òptica (OM)
Perfilometria
Suport a la docència
Divulgació
Equipament
Reserves
Actualitat