Vés al contingut principal
Idioma seleccionat:
Català
Español
Desplega el formulari de cerca
Cerca al web
Vés
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X
Menú
Coneix el Servei
Serveis
Equipament
Reserves
Actualitat
Inici
Equipament
Equipament
Filtra els cursos per tipus:
Anàlisi d'imatge
Difracció de raigs X
Microscòpia electrònica
Microscòpia òptica
Perfilometria
Preparació de mostres
Ultramicrotomia
Aplica els filtres
Equip de vitrificació Crio-Plunging Leica EM GP
Preparació de mostres
//
Huygens 14.10
Anàlisi d'imatge
//
IMARIS 9.5
Anàlisi d'imatge
//
ImageJ/Fiji
Anàlisi d'imatge
//
LAS AF
Anàlisi d'imatge
//
Lupa estereoscòpica Leica MZFLIII
Microscòpia òptica
//
Metal·litzador catòdic de C Emitech K550X/K250
Preparació de mostres
//
Metal·litzador d'Au Emitech K550X
Preparació de mostres
//
Pàgina anterior
Pàgina
1
Pàgina actual
2
Pàgina
3
Hi ha més pàgines
...
Pàgina
5
Pàgina siguiente
Mapa del web
Inici
Coneix el Servei
Coneix el Servei (visió general)
Història
Personal
Contacte i horari
Tarifes
Política de Qualitat i Protecció de Dades
Normativa
Suggeriments i reclamacions
Serveis
Serveis (visió general)
Microscòpia Electrònica
Preparació de Mostres
Microscòpia Òptica (OM)
Perfilometria
Difracció de Raigs X (DRX)
Suport a la docència
Divulgació
Equipament
Reserves
Actualitat
