Vés al contingut principal
Desplega el formulari de cerca
Cerca al web
Vés
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X
Menú
Coneix el servei
Serveis
Equipament
Reserves
Actualitat
Inici
Equipament
Equipament
Filtra els cursos per tipus:
Anàlisi Imatge
Microscòpia Electrònica
Microscòpia Òptica
Perfilometria
Preparació Mostres
Ultramicrotomia
Actualitza
SEM Hitachi S-570
Microscòpia Electrònica
SEM Zeiss EVO
Microscòpia Electrònica
SEM Zeiss Merlin
Microscòpia Electrònica
TEM Hitachi H-7000 (100kV)
Microscòpia Electrònica
TEM Jeol 2011 (200kV)
Microscòpia Electrònica
TEM Jeol JEM 1400 (120kV)
Microscòpia Electrònica
Mapa del web
Inici
Coneix el servei
Coneix el servei (visió general)
Personal
Contacte i horari
Tarifes
Política de Qualitat i Protecció de Dades
Normativa
Suggeriments i reclamacions
Serveis
Serveis (visió general)
Microscòpia Electrònica (EM)
Preparació de Mostres (SP)
Microscòpia Òptica (OM)
Perfilometria
Suport a la docència
Divulgació
Equipament
Reserves
Actualitat