Accede al contenido principal
Idioma seleccionado:
Español
Català
Despliega el formulario de búsqueda
Búsqueda en la web
Ir
Universitat Autònoma de Barcelona
Servicio de Microscopía y Difracción de Rayos X
Menú
Conoce el Servicio
Equipamiento
Servicios
Reservas
Actualidad
Inicio
Equipamiento
Equipamiento
Filtra los cursos por tipo:
Análisis de imagen
Difracción de rayos X
Microscopía electrónica
Microscopía óptica
Perfilometría
Preparación de muestras
Ultramicrotomía
Aplica los filtros
Equipo de vitrificación Cryo-Plunging Leica EM GP
Preparación de muestras
//
Huygens 14.10
Análisis de imagen
//
IMARIS 9.5
Análisis de imagen
//
ImageJ/Fiji
Análisis de imagen
//
LAS AF
Análisis de imagen
//
Lupa estereoscópica Leica MZFLIII
Microscopía óptica
//
Metalitzador catódico de C Emitech K550X/K250
Preparación de muestras
//
Metalizador de Au Emitech K550X
Preparación de muestras
//
Página anterior
Pagina
1
Página actual
2
Pagina
3
Hay más páginas
...
Pagina
5
Página siguiente
Mapa de la web
Inicio
Conoce el Servicio
Conoce el Servicio (visión general)
Historia
Personal
Contacto y horario
Tarifas
Política de Calidad y Protección de Datos
Normativa
Sugerencias y reclamaciones
Equipamiento
Servicios
Servicios (visión general)
Microscopía Electrónica
Preparación de Muestras
Microscopía Óptica (OM)
Perfilometría
Difracción de Rayos X (DRX)
Soporte a la docencia
Divulgación
Reservas
Actualidad
