Accede al contenido principal
Idioma seleccionado:
Español
Català
Despliega el formulario de búsqueda
Búsqueda en la web
Ir
Universitat Autònoma de Barcelona
Servicio de Microscopía y Difracción de Rayos X
Menú
Conoce el Servicio
Equipamiento
Servicios
Reservas
Actualidad
Inicio
Equipamiento
Equipamiento
Filtra los cursos por tipo:
Análisis de imagen
Difracción de rayos X
Microscopía electrónica
Microscopía óptica
Perfilometría
Preparación de muestras
Ultramicrotomía
Aplica los filtros
SEM Zeiss Merlin
Microscopía electrónica
//
Sierra de precisión Minitom Struers
Preparación de muestras
//
Sistema de contraste de rejillas Leica EM AC20
Preparación de muestras
//
Sistema de descarga PELCO easyGlow
Preparación de muestras
//
Sistema de punto crítico Baltec CPD030
Preparación de muestras
//
TEM Hitachi H-7000 (100kV)
Microscopía electrónica
//
TEM Jeol 2011 (200 kV)
Microscopía electrónica
//
TEM Jeol JEM 1400 (120kV)
Microscopía electrónica
//
Página anterior
Pagina
1
Hay más páginas
...
Pagina
3
Página actual
4
Pagina
5
Página siguiente
Mapa de la web
Inicio
Conoce el Servicio
Conoce el Servicio (visión general)
Historia
Personal
Contacto y horario
Tarifas
Política de Calidad y Protección de Datos
Normativa
Sugerencias y reclamaciones
Equipamiento
Servicios
Servicios (visión general)
Microscopía Electrónica
Preparación de Muestras
Microscopía Óptica (OM)
Perfilometría
Difracción de Rayos X (DRX)
Soporte a la docencia
Divulgación
Reservas
Actualidad
