L'actualitat del Parc

Descripció:

És un curs d'usuari de microscòpia confocal de reflexió i interferomètrica Leica DCM. Combina sessions teòriques i pràctiques per proporcionar els coneixements bàsics necessaris per a una adequada utilització d'aquestes tècniques instrumentals.

Ubicació: Servei de Microscòpia Campus de la UAB (Bellaterra · Barcelona)

Data: Dilluns 2, Març de 2015 - 13:53h

Data fi: Divendres 6, Març de 2015 - 13:53h

Organitzador: Leica, UAB

Enllaç:

Més informació

Afegir al meu calendari 2015-03-02 13:53:13 2015-03-06 13:53:18 Europe/Madrid I Curs de metrologia superficial per a usuaris de sistemes Leica DCM És un curs d'usuari de microscòpia confocal de reflexió i interferomètrica Leica DCM. Combina sessions teòriques i pràctiques per proporcionar els coneixements bàsics necessaris per a una adequada utilització d'aquestes tècniques instrumentals. Servei de Microscòpia Campus de la UAB (Bellaterra · Barcelona) Leica, UAB