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Universitat Autònoma de Barcelona
Servicio de Microscopía y Difracción de Rayos X

Perfilómetro óptico Leica DCM 3D

El perfilómetro DCM 3D está diseñado para el análisis rápido y sin contacto de superficies de estructuras microscópicas y nanoestructuras. El sistema combina tecnología confocal con interferometría para obtener topografías precisas y fiables en un rango que va desde los milímetros hasta los nanómetros.

La tecnología confocal con microvisualizador permite medir una gran variedad de materiales y adquirir imágenes confocales y de campo claro de forma simultánea.

Este perfilómetro se utiliza en una amplia variedad de aplicaciones (tribología, topografía 3D, rugosidad, etc.).

Información complementaria

Perfilómetre óptico Leica DCM 3D