Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X (SMiDRX)

El Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X (SMiDRX) disposa de la infraestructura necessària per a la majoria d’especialitats científiques experimentals que requereixen la utilització de tècniques de microscòpia òptica avançada i electrònica, indispensables per estudis en camps com la ciència de materials, ciències biomèdiques i nanotecnologia, entre altres.

Serveis

• Assessorament en el disseny experimental i preparació de mostres materials per Microscòpia Electrònica (TEM i SEM), utilitzant metal·litzador (Au, C, Cr), serra, polidora plana i còncava, aprimador iònic i equip de vitrificació.
• Preparació de mostres biològiques (suspensions, mostres seques, cèl·lules i teixits...) per microscòpia electrònica: estudis ultraestructurals (tincions negatives, entre altres).
• Observació de mostres materials i biològiques per microscòpia electrònica de rastreig, utilitzant SEM Zeiss EVO i FE-SEM Zeiss Merlin (consultar equips web Servei).
• Observació de mostres materials i biològiques per microscòpia electrònica de transmissió, utilitzant TEM Jeol 2011 i TEM Jeol 1400 (consultar equips web Servei).
• Assessorament en el disseny experimental i preparació de mostres biològiques i materials per Microscòpia Òptica: immunofluorescències, entre altres.
• Observació de mostres materials i biològiques per microscòpia òptica de camp clar i fluorescència en mode epifluorescència i confocal (Lambdascan, Projeccions 3D, timelapse, TileScan (mosaics)…), utilitzant Leica TCS SP5 i Olympus Fluoview 1000 (consultar equips web Servei).
• Tècniques òptiques avançades: col·localització, FRET, FRAP, fotoactivació i fotoconversió, CALI, Second Harmònic Generation (SHG), 2-photon, TIRF, perfils topogràfics, entre altres.
• Processament, programació i anàlisi d’imatges a través de diferents softwares (IMARIS, ImageJ/Fiji, Metamorph, Huygens, LAS AF…).