Servicio de Microscopía y Difracción de Rayos X (SMiDRX)

El Servicio de Microscopía y Difracción de Rayos X (SMiDRX) cuenta con la infraestructura necesaria para la mayoría de las especialidades científicas experimentales que requieren el uso de técnicas avanzadas de microscopía óptica y electrónica, indispensables para estudios en campos como la ciencia de los materiales, las ciencias biomédicas y la nanotecnología, entre otros.

Servicios

• Asesoramiento en el diseño experimental y preparación de muestras de material para microscopía electrónica (TEM y SEM), utilizando un metalizador (Au, C, Cr), sierra, pulidor plano y cóncavo, adelgazador iónico y equipo de vitrificación.
• Preparación de muestras biológicas (suspensiones, muestras secas, células y tejidos...) para microscopía electrónica: estudios ultraestructurales (tinción negativa, entre otros).
• Observación de muestras materiales y biológicas mediante microscopía electrónica de barrido, utilizando un SEM Zeiss EVO y un FE-SEM Zeiss Merlin (véase la página web de equipos de servicio).
• Observación de muestras materiales y biológicas mediante microscopía electrónica de transmisión, utilizando un TEM Jeol 2011 y un TEM Jeol 1400 (véase la página web de equipos de servicio).
• Asesoramiento sobre el diseño experimental y la preparación de muestras biológicas y materiales para microscopía óptica: inmunofluorescencias, entre otras.
• Observación de muestras materiales y biológicas mediante microscopía óptica de campo claro y fluorescencia en modos epifluorescencia y confocal (Lambdascan, proyecciones 3D, timelapse, TileScan (mosaicos)...), utilizando Leica TCS SP5 y Olympus Fluoview 1000 (véase el sitio web de equipos de servicio).
• Técnicas ópticas avanzadas: colocalización, FRET, FRAP, fotoactivación y fotoconversión, CALI, generación de segundo armónico (SHG), dos fotones, TIRF, perfilado topográfico, entre otras.
• Procesamiento, programación y análisis de imágenes utilizando diversos paquetes de software (IMARIS, ImageJ/Fiji, Metamorph, Huygens, LAS AF…).